Спектрофотометры серии SolidSpec отличает высокая чувствительность, возможность проведения измерений в широком спектральном диапазоне (от глубокого УФ до ближнего ИК-диапазона) и большое кюветное отделение. Все это позволяет использовать приборы при оценке характеристик изделий из стекла, полупроводниковых материалов, панелей солнечных батарей и плоскопанельных мониторов. Другое распространенное использование SolidSpec-3700i/3700i DUV — это анализ запрещенной зоны, оценка характеристик покрытия и оптических компонентов.
Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700i/3700i DUV обеспечивает программное обеспечение LabSolutions UV-Vis.
В случае ПО LabSolutions UV-Vis помимо функций измерения и анализа доступна возможность оценки результатов измерения (критерий соответствия/несоответствия). Простой экспорт данных в текстовый или табличный формат повышает эффективность работы.
Дополнительное ПО для всех спектрофотометров:
Спектральный диапазон | SolidSpec-3700/3700i: стандартные модели 240–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 190–3300 нм. SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV: модели для измерения в глубоком УФ 175–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 165–3300 нм. |
Спектральная ширина щели | 8-ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области 10-ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области |
Разрешение(*) | 0,1 нм |
Шаг по длине волны | от 0,01 до 5 нм |
Точность отображения длины волны | шаг 0,01 нм |
Погрешность установки длины волны(*) | ± 0,2 нм в УФ / видимой области ± 0,8 нм в ближней ИК области |
Воспроизводимость длины волны(*) | ± 0,08 нм в УФ/видимой области ± 0,32 нм в ближней ИК области |
Скорость сканирования длины волны | Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-деhttps://nordwestlab.ru/ru/instruments/molecular-atomic-spectroscopy/uf-vid-bik-spektrofotometry/solidspec-3700i-3700i-duv/тектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора |
Переключение ламп | Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм) |
Уровень рассеянного излучения(*) | 0,00008% (220 нм, NaI) 0,00005% (340 нм, NaNO2) 0,0005% (1420 нм, H2O) 0,005% (2365 нм, CHCl3) |
Уровень шума | 0,0002 Abs или менее (500 нм) 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с |
Колебания базовой линии | ± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU |
Дрейф | SolidSpec-3700/3700i 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) |
Источники света | 50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы) Дейтериевая лампа (1250 часов работы) Встроенное автоматическое позиционирование ламп. |
Монохроматор | Двойной монохроматор с дифракционными решетками |
Детекторы | УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700/3700i, R955 для SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV) Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS |
Фотометрический диапазон | от –6 до 6 Abs |
Оптическая схема | Двухлучевая |
Размеры, масса | 1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В), 170 кг |