Испытательные машины на микросжатие серии MCT-W, сочетающие в себе последние достижения оптики и электроники, служат для определения прочности микрокомпонентов и микрочастиц размерами от нескольких микрон до нескольких сотен микрон, а также ультратонких волокон. В нашем каталоге представлено оборудование, предназначенное для оснащения заводских и научно-исследовательских лабораторий, удовлетворяющее растущим потребностям в точных испытаниях микрокомпонентов на сжатие.
Измерение перемещения при микросжатии. Возможность определения характеристик при сжатии для различных микрокомпонентов. Возможность поставки моделей с различным разрешением и диапазоном измерений (диапазон до 100 мкм с разрешением 0,01 мкм, диапазон до 10 мкм с разрешением 0,001 мкм).
Наименование модели | MCT-W серия | |||
500 | 501 | 200 | 201 | |
Блок нагружения | ||||
Способ нагружения | Электромагнитная сила | |||
Диапазон нагружения (мН) | 9.8~4903 | 9.8~1961 | ||
Точность нагружения | В пределах ±1% от указанной величины силы или 0.1мН (выбирается большее значение) | |||
Возможность считывания | 5мН (при испытаниях с силой 49мН или менее) | 2мН (при испытаниях с силой 19мН или менее) | ||
Блок измерения перемещения | ||||
Способ | Дифференциальный трансформатор | |||
Диапазон измерения (мкм) | 0~100 | 0~10 | 0~100 | 0~10 |
Мин. увеличение (мкм) | 0.01 | 0.001 | 0.01 | 0.001 |
Линейность | В пределах ±2% от полной шкалы | |||
Оптический монитор | ||||
Общее усиление | Прибл. x100, x500 (x200, x400, x1000 как опция) | |||
Линзы объектива | x10, x50 (x20, x40, x100 как опция) | |||
Окуляр | x10 | |||
Способ освещения | Эпилюминесцентный | |||
Лампа освещения | Галогеновая 6В/20Вт | |||
Траектория света | Возможность переключения между визуальным наблюдением и съемкой | |||
Оптическая головка | ||||
Способ коллимации | Двухсторонняя синхронная система коллимации | |||
Детектор | Оптический кодировщик | |||
Эффективный диапазон измерений (мкм) | Прибл. 200 (с линзой объектива x50) | |||
Мин. увеличение (мкм) | 0.1 | |||
Индентер | ||||
Индентер для сжатия сверху | Тип: Плоский индентер (диаметр 50мкм) (индентер 500мкм и индентер в форме трехгранной пирамиды доступны как опция) Материал: Алмаз, вес 2.1±0.02 г | |||
Плата для сжатия снизу | Плоская плата SKS (Алмазная плата для сжатия доступна как опция) | |||
Предметный столик | ||||
Диапазон вертикального позиционирования | Прибл. 60мм | |||
Площадь | Прибл. Ш 130мм x Г 130мм | |||
Диапазон горизонтального позиционирования | 25мм для обоих направлений X и Y Мин. увеличение: 0.01мм (0.001мм как опция) | |||
Точность позиционирования | В пределах ±0.5мкм | |||
Параметры испытания | ||||
Режим испытания | Испытание на сжатие, испытание в режиме «нагрузка – разгрузка», циклическое испытание | |||
Форма образца | Частица, волокно или другая форма | |||
Количество циклов испытания | Макс. 1000 | |||
Блок обработки данных | Расчет прочности при сжатии, отображение параметров и результатов испытания. Отображение данных нагрузки и деформации Отображение кривой нагрузка/деформация Отображение кривой прочность/диаметр частицы Отображение кривой деформация/время Отображение кривой зависимости прочности от любого другого выбранного параметра |